Указ Президента РФ от 28.09.2001 N 1156

"О внесении изменений и дополнений в список товаров и технологий двойного назначения, экспорт которых контролируется, утвержденный Указом Президента Российской Федерации от 26 августа 1996 г. N 1268 "О контроле за экспортом из Российской Федерации товаров и технологий двойного назначения"
Редакция от 28.09.2001 — Документ утратил силу, см. «Указ Президента РФ от 05.05.2004 N 580»

ПРЕЗИДЕНТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

УКАЗ
от 28 сентября 2001 г. N 1156

О ВНЕСЕНИИ ИЗМЕНЕНИЙ И ДОПОЛНЕНИЙ В СПИСОК ТОВАРОВ И ТЕХНОЛОГИЙ ДВОЙНОГО НАЗНАЧЕНИЯ, ЭКСПОРТ КОТОРЫХ КОНТРОЛИРУЕТСЯ, УТВЕРЖДЕННЫЙ УКАЗОМ ПРЕЗИДЕНТА РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ ОТ 26 АВГУСТА 1996 Г. N 1268 "О КОНТРОЛЕ ЗА ЭКСПОРТОМ ИЗ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ ТОВАРОВ И ТЕХНОЛОГИЙ ДВОЙНОГО НАЗНАЧЕНИЯ"

В целях обеспечения выполнения Российской Федерацией международных обязательств по экспортному контролю за обычными вооружениями, товарами и технологиями двойного назначения и в соответствии со статьей 6 Федерального закона "Об экспортном контроле" постановляю:

1. Внести в Список товаров и технологий двойного назначения, экспорт которых контролируется, утвержденный Указом Президента Российской Федерации от 26 августа 1996 г. N 1268 "О контроле за экспортом из Российской Федерации товаров и технологий двойного назначения" (Собрание законодательства Российской Федерации, 1996, N 36, ст. 4197; 1999, N 2, ст. 265; 2000, N 10, ст. 1115; N 33, ст. 3354; 2001, N 16, ст. 1566), изменения и дополнения согласно приложению.

2. Настоящий Указ вступает в силу через три месяца со дня его официального опубликования.

Президент Российской
Федерации
В.ПУТИН

Москва, Кремль

28 сентября 2001 года

N 1156

ПРИЛОЖЕНИЕ
к Указу Президента
Российской Федерации
от 28 сентября 2001 г.
N 1156

ИЗМЕНЕНИЯ И ДОПОЛНЕНИЯ,
ВНОСИМЫЕ В СПИСОК ТОВАРОВ И ТЕХНОЛОГИЙ ДВОЙНОГО НАЗНАЧЕНИЯ, ЭКСПОРТ КОТОРЫХ КОНТРОЛИРУЕТСЯ

1. В разделе 1: пункт 1.2.2 изложить в следующей редакции:

"1.2.2. Оборудование для производства металлических сплавов, порошкообразных металлических сплавов или сплавленных материалов, специально предназначенное для того, чтобы предотвратить загрязнения, и специально разработанное для использования в одном из процессов, указанных в пункте 1.3.2.3.2";

пункт 1.3.2 изложить в следующей редакции:

"1.3.2. Металлические сплавы, порошки металлических сплавов или сплавленные материалы следующего типа:  
  Примечание.  
  По пункту 1.3.2 не контролируются металлические сплавы, порошки металлических сплавов или сплавленные материалы, предназначенные для грунтующих покрытий  
  Технические примечания:  
  1. К металлическим сплавам, указанным в пункте 1.3.2, относятся те, которые содержат больший процент (по весу) указанного металла, чем других элементов  
  2. Срок эксплуатации до разрыва следует определять в соответствии со стандартной методикой ASTM Е-139 или ее национальным эквивалентом  
  3. Показатель циклической усталости должен определяться в соответствии со стандартной методикой ASTM Е-606 "Рекомендаций по тестированию на усталость при небольшом количестве циклов и постоянной амплитуде" или ее национальным эквивалентом.  
  Тестирование следует производить в осевом направлении при среднем значении показателя нагрузки, равном единице, и коэффициенте концентрации нагрузки (Kt), равном единице. Средняя нагрузка определяется как частное от деления разности максимальной и минимальной нагрузок на максимальную нагрузку  
1.3.2.1. Алюминиды, такие, как:  
1.3.2.1.1. Никелевые алюминиды, содержащие минимально 15 % (по весу), максимально 38 % (по весу) алюминия и не менее одного дополнительного элемента сплава; 7502200000
1.3.2.1.2. Титановые алюминиды, содержащие 10% (по весу) или более алюминия и не менее одного дополнительного элемента сплава 810810100
1.3.2.2. Металлические сплавы, изготовленные из материалов, контролируемых по пункту 1.3.2.3, такие, как:  
1.3.2.2.1. Никелевые сплавы: 7502200000
  а) со сроком эксплуатации 10000 часов или более до разрыва в условиях нагружения на уровне 676 МПа при температуре 923 К (650 гр. С); или  
  б) с низким показателем циклической усталости, 10000 циклов или более, при температуре 823 К (550 гр. С) и максимальном нагружении 1095 МПа;  
1.3.2.2.2. Ниобиевые сплавы: 8112913100;
  а) со сроком эксплуатации 10000 часов или более до разрыва в условиях нагружения на уровне 400 МПа при температуре 1073 К (800 гр. С); или 8112993000
  б) с низким показателем циклической усталости, 10000 циклов или более, при температуре 973 К (700 гр. С) максимальном нагружении 700 МПа; и
1.3.2.2.3. Титановые сплавы: 810810100
  а) со сроком эксплуатации 10000 часов или более до разрыва в условиях нагружения на уровне 200 Мпа при температуре 723 К (450 гр.С); или  
  б) с низким показателем циклической усталости, 10000 циклов или более, при температуре 723 К (450 гр.С) и максимальном нагружении 400 МПа;  
1.3.2.2.4. Алюминиевые сплавы с пределом прочности на растяжение: 760120; 7604291000;
  а) 240 МПа или более при температуре 473 К (200 гр. С); или 7608209100; 7608209900
  б) 415 МПа или более при температуре 298 К (25 гр. С);  
1.3.2.2.5. Магниевые сплавы: 8104
  а) с пределом прочности на растяжение 345 МПа или более; и  
  б) со скоростью коррозии менее 1 мм в год в 3-процентном водном растворе хлорида натрия, измеренной в соответствии со стандартной методикой ASTM G-31 или ее национальным эквивалентом  
1.3.2.3. Порошки металлических сплавов или частицы материала, имеющие все следующие характеристики:  
1.3.2.3.1. Изготовленные из любых следующих композиционных систем:  
  Техническое примечание.  
  Х в дальнейшем соответствует одному или более элементам, входящим в состав сплава  
1.3.2.3.1.1. Никелевые сплавы (Ni-Al-X, Ni-X-Al), квалифицированные для использования в составе частей или компонентов турбин двигателей, т. е. менее чем с тремя неметаллическими частицами (введенными в процессе производства) крупнее 100 мкм в (10 в ст.9) частицах сплава; 7504000000
1.3.2.3.1.2. Ниобиевые сплавы (Nb-Al-X или Nb-X-Al, Nb-Si-X или Nb-X-Si, Nb-Ti-X или Nb-X-Ti); 8112913100; 8112993000
1.3.2.3.1.3. Титановые сплавы (Ti-Al-X или Ti-X-Al); 810810100
1.3.2.3.1.4. Алюминиевые сплавы (Al-Mg-X или Al-X-Mg, Al-Zn-X или Al-X-Zn, Al-Fe-X или Al-X-Fe); или 7603
1.3.2.3.1.5. Магниевые сплавы (Mg-Al-X или Mg-X-Al); и 8104300000
1.3.2.3.2. Изготовленные в контролируемой среде при помощи одного из нижеследующих процессов:  
  а) вакуумного распыления;  
  б) газового распыления;  
  в) центробежного распыления;  
  г) резкого охлаждения;  
  д) спиннингования расплава и кристаллизации;  
  е) экстракции расплава и кристаллизации; или  
  ж) механического легирования  
1.3.2.3.3. Способные образовывать материалы, контролируемые по пунктам 1.3.2.1 или 1.3.2.2;  
1.3.2.4. Сплавленные материалы, имеющие все следующие характеристики: 7503009000; 7504000000;
  а) изготовленные из любых композиционных систем, определенных в пункте 1.3.2.3.1; 7505120000; 7506; 7603200000;
  б) в виде неизмельченных чешуек, лент или тонких стержней; и 7604291000; 7606129100;
  в) изготавливаемые в контролируемой среде любым из следующих методов: 7606920000; 760719;
  1) резкого охлаждения; 8104300000;
  2) спиннингования расплава; или 8104900000;
  3) экстракции расплава; 810810100; 8108109000; 8108903000; 8112913100; 8112913900; 8112993000";

в пунктах 2.1.1.1 и 2.1.1.2 слова "ИСО по классу" заменить словами "ИСО 492 по классу точности";

в технических примечаниях к пункту 2.2:

дополнить новым пунктом 2 следующего содержания:

"2. Для целей пункта 2.2 количество осей, которые могут быть одновременно скоординированы для контурного управления, является количеством осей, которые осуществляют относительное движение между любой обрабатываемой деталью и инструментом, отрезной головкой или шлифовальным кругом, которые отрезают или снимают материал с обрабатываемой детали. Это не включает любую из следующих дополнительных осей, которые осуществляют другие относительные движения в пределах станка:

а) кругозаправочные системы в шлифовальных станках;

б) параллельно вращающиеся оси, предназначенные для установки отдельных обрабатываемых деталей;

в) совместно вращающиеся оси, предназначенные для управления одинаковыми обрабатываемыми деталями путем закрепления их в патроне с разных концов";

пункты 2-4 считать соответственно пунктами 3-5;

пункт 2.2.1 дополнить примечаниями следующего содержания:

"Примечания:

1. По пункту 2.2.1 не контролируются станки специального назначения, ограниченные обработкой шестерен. Для таких станков см. пункт 2.2.3

2. По пункту 2.2.1 не контролируются станки специального назначения, ограниченные обработкой любых из следующих деталей:

а) коленчатых или распределительных валов;

б) резцов или фрез;

в) червяков экструдеров;

г) гравированных или ограненных деталей ювелирных изделий";

в пункте 2.2.1.2:

подпункт "а" изложить в следующей редакции:

"а) имеющие все следующие характеристики:

1) точность позиционирования со всей доступной компенсацией, равную или меньшую (лучшую) 4,5 мкм, в соответствии с международным стандартом ИСО 230/2 (1997) или его национальным эквивалентом вдоль любой линейной оси; и

2) три линейные оси плюс одну ось вращения, которые могут быть одновременно скоординированы для контурного управления;";

дополнить пункт подпунктом "г" следующего содержания:

"г) станки с летучей фрезой, имеющие все следующие характеристики:

1) биение и эксцентриситет шпинделя меньше (лучше) 0,0004 мм полного показания индикатора (ППИ); и

2) угловую девиацию движения суппорта (рыскание, тангаж и вращение вокруг продольной оси) меньше (лучше) двух дуговых секунд ППИ на более чем 300 мм перемещения;";

подпункт "а" пункта 2.2.1.3 изложить в следующей редакции:

"а) имеющие все следующие характеристики:

1) точность позиционирования со всей доступной компенсацией, равную или меньшую (лучшую) 3 мкм, в соответствии с международным стандартом ИСО 230/2 (1997) или его национальным эквивалентом вдоль любой линейной оси; и

2) три или более чем три оси, которые могут быть одновременно скоординированы для контурного управления; или";

в примечании к пункту 2.2.1.3:

подпункты "в" и "г" исключить;

подпункт "д" считать подпунктом "в";

в пункте 2.2.1.5:

слово "материалов" заменить словами "материалов, имеющие все следующие характеристики";

подпункт "а" изложить в следующей редакции:

"а) обработка материалов осуществляется посредством любого из следующего:";

пункт 2.2.8 изложить в следующей редакции:

"2.2.8. Узлы или блоки, специально разработанные для станков, или контроля размеров, или измерительных систем и оборудования, такие, как:";

в пункте 2.4.2:

слова "выполнять любую из следующих операций:" заменить словами "координировать одновременно более четырех осей для контурного управления";

пункты 2.4.2.1 и 2.4.2.2 исключить;

в пункте 17 примечаний к таблице к пункту 2.5.3.6 "Технические приемы осаждения покрытий":

слова "поликарбонатные окуляры,", "оборудование пекарен," и "высококачественные линзы, сконструированные для камер или телескопов," исключить;

слова "офисного автоматического оборудования" заменить словами "офисное автоматизированное оборудование";

в пункте 3.1.1.1.3.1 цифры "3500" заменить цифрами "6500";

в пункте 3.1.1.1.3.3 слова "связи для внешнего межсоединения в параллельный процессор со скоростью передачи, превышающей 2,5 Мбит/с" заменить словами "связи, которые обеспечивают прямое внешнее межсоединение между параллельными микросхемами микропроцессоров со скоростью передачи, превышающей 150 Мбит/с";

в подпункте 1 подпункта "а" пункта 3.1.1.1.5 цифры "10" заменить цифрой "5";

в пункте 3.1.1.1.7:

из подпункта "а" слово "или" исключить;

в подпункте "б" слова "менее 0,4 нс;" заменить словами "менее 0,4 нс; или";

в пункте 3.1.1.1.10:

в подпункте "а" цифры "208" заменить цифрами "1000";

в подпункте "б" цифры "0,35" заменить цифрами "0,1";

в пункте 3.1.1.1.12:

слова "любую из следующих характеристик:" заменить словами "расчетное время выполнения комплексного N-точечного сложного быстрого преобразования Фурье менее (N log2 N)/20480 мс, где N - число точек";

подпункты "а" - "в" исключить;

дополнить пункт техническим примечанием следующего содержания:

"Техническое примечание.

В случае, когда N равно 1024 точкам, формула в пункте 3.1.1.1.12 дает результат времени выполнения 500 мкс";

примечание к пункту 3.1.1.2.1 изложить в следующей редакции:

"Примечание.

По пункту 3.1.1.2.1 не контролируются лампы, разработанные или спроектированные для работы в любом диапазоне частот, который удовлетворяет всем следующим характеристикам:

а) не превышает 31 ГГц; и

б) распределен Международным союзом электросвязи для обслуживания радиосвязи, но не для радиоопределения";

в подпункте "в" пункта 3.1.1.2.1.1 слово "мгновенной" заменить словом "относительной";

в пункте 3.1.1.2.2:

слова "или модули," заменить словами "или модули, имеющие все следующее:";

в подпункте "а" слова "схемы; и" заменить словами "схемы, имеющие один или более чем один элемент активных цепей; и";

примечание к пункту изложить в следующей редакции:

"Примечания:

1. По пункту 3.1.1.2.2 не контролируются схемы или модули для оборудования, разработанного или спроектированного для работы в любом диапазоне частот, который удовлетворяет всем следующим характеристикам:

а) не превышает 31 ГГц; и

б) распределен Международным союзом электросвязи для обслуживания радиосвязи, но не для радиоопределения

2. По пункту 3.1.1.2.2 не контролируется радиопередающее спутниковое оборудование, разработанное или спроектированное для работы в полосе частот от 40,5 до 42,5 ГГц;";

в примечании к пункту 3.1.1.2.8 слова "пригодная для работы на стандартных частотах, установленных Международным союзом электросвязи" заменить словами "спроектированная для работы в любом диапазоне частот, распределенном Международным союзом электросвязи для обслуживания радиосвязи, но не для радиоопределения";

в подпункте "б" пункта 3.1.2.3 цифры "25,6" заменить цифрами "500";

подпункты 1 и 2 подпунктов "а" и "б" пункта 3.2.1.3 изложить в следующей редакции:

"1) разработанные или оптимизированные для производства структур с критической величиной отклонения размера 0,3 мкм или менее при среднеквадратичной погрешности 3 сигма = +- 5 %; или

2) разработанные для обеспечения дефектности поверхности менее 0,04 частицы на кв. см для частиц размером более 0,1 мкм в диаметре;";

подпункты 1 и 2 подпунктов "а" и "б" пункта 3.2.1.4 изложить в следующей редакции:

"1) разработанные в соответствии с техническими условиями производителя или оптимизированные для производства структур с критической величиной отклонения размера 0,3 мкм или менее при среднеквадратичной погрешности 3 сигма = +- 5 %; или

2) разработанные для обеспечения дефектности поверхности менее 0,04 частицы на кв. см для частиц размером более 0,1 мкм в диаметре;";

примечание к пункту 3.2.2.2 дополнить пунктом "в" следующего содержания:

"в) запоминающих устройств;"; из пункта 3.3.1.2 слово "или" исключить; включить новый пункт 3.3.1.3 следующего содержания:

"3.3.1.3. Карбид кремния; или 3818009000";

пункт 3.3.1.3 считать пунктом 3.3.1.4;

в пункте 3.4.3:

слова "предназначенное для полупроводниковых приборов или интегральных схем, имеющее любую из следующих составляющих" заменить словами "имеющее все следующие составляющие";

пункты 3.4.3.1 и 3.4.3.2 изложить в следующей редакции:

"3.4.3.1. Спроектировано для разработки полупроводниковых приборов или интегральных схем; и
3.4.3.2. Спроектировано для выполнения или использования любой из следующих составляющих:
  а) правил проектирования или правил проверки схем;
  б) моделирования схем по их физической топологии; или
  в) имитаторов литографических процессов для проектирования";

пункт 3.4.3.3 исключить;

в примечании к пункту 3.5.1 слова "подпункту "ж" пункта" заменить словом "пункту";

пункт 3.5.2 изложить в следующей редакции:

"3.5.2. Технологии, соответствующие общему технологическому примечанию, другие, чем те, которые контролируются по пункту 3.5.1, для разработки или производства микропроцессорных микросхем, микрокомпьютерных микросхем и микросхем микроконтроллеров, имеющих совокупную теоретическую производительность (СТП) 530 Мтопс или более и арифметико-логическое устройство с длиной выборки 32 бита или более";

пункт 3.5 дополнить пунктом 3.5.3 следующего содержания:

"3.5.3. Прочие технологии для разработки или производства:
  а) вакуумных микроэлектронных приборов;
  б) полупроводниковых приборов на гетероструктурах, таких, как транзисторы с высокой подвижностью электронов, биполярных транзисторов на гетероструктуре, приборов с квантовыми ямами или приборов на сверхрешетках;
  в) сверхпроводящих электронных приборов;
  г) подложек пленок алмаза для электронных компонентов;
  д) подложек из структур кремния на диэлектрике (КНД-структур) для интегральных схем с диэлектриком из двуокиси кремния;
  е) подложек из карбида кремния для электронных компонентов";

в пункте 4.1.3.2 цифры "6500" заменить цифрами "28000";

в пункте 4.1.3.4 цифры "3000000" заменить цифрами "200000000";

в пункте 4.1.3.7 слова "80 Мбайт/с" заменить словами "1,25 Гбайт/с";

пункт 4.4.3.2 изложить в следующей редакции:

"4.4.3.2. Исключен;";

пункт 5.4.1.3.2 изложить в следующей редакции:

"5.4.1.3.2. Исключен;";

в примечании к подпункту "б" пункта 5.5.1.3.4 слова "установленном Международным союзом электросвязи;" заменить словами "распределенном Международным союзом электросвязи для обслуживания радиосвязи, но не для радиоопределения;";

подпункт "г" пункта 3 примечаний к части 2 Категории 5 изложить в следующей редакции:

"г) исключен;";

в подпункте "б" пункта 3 примечания к пункту 5.1.2 слова "защищенной от копирования, доступной только для чтения среде передачи данных; или" заменить словами "защищенному от копирования содержимому, хранящемуся на доступном только для чтения носителе информации; или";

в пункте 6.1.3.1:

слово "приборов" заменить словами "приборов и специально разработанные для них компоненты";

в примечании к пункту слова "электронных модулей" заменить словами "сменных плат";

дополнить пункт пунктом 6.1.3.1.6. следующего содержания:

"6.1.3.1.6. Сменные платы, имеющие все следующие 9007190000"; характеристики:
  а) специально разработанные для камер контрольно-измерительных приборов, имеющих модульную структуру и контролируемых по пункту 6.1.3.1; и
  б) дающие возможность камерам удовлетворять характеристикам, установленным в пунктах 6.1.3.1.3, 6.1.3.1.4 или 6.1.3.1.5, в соответствии с техническими требованиями производителей

пункт 6.1.3.2.1 дополнить техническим примечанием следующего содержания:

"Техническое примечание.

Для целей настоящего пункта цифровые видеокамеры должны оцениваться максимальным числом активных пикселов, используемых для фиксации движущихся изображений";

в пункте 6.1.4.5:

в подпункте "б" слова "менее 1 нм" заменить словами "менее 1 нм (среднеквадратичную) для выборочного исследования длин, равных или превышающих 1 мм";

в подпункте "в" слова "более 2,5 х (10 в ст.(-6)) /К" заменить словами "менее 3 х (10 в ст.(-6)) /К";

в подпунктах 2 подпунктов "а" - "г" пункта 6.1.5.1.1 и в пунктах 6.1.5.1.2.1, 6.1.5.1.2.2 и 6.1.5.1.2.4 слова "или выходную мощность в непрерывном режиме" заменить словами "выходную мощность";

подпункт "а" пункта 6.1.5.1.5.3 изложить в следующей редакции:

"а) кислородно-йодные (О2 -I) лазеры;";

пункт 6.1.5.2 изложить в следующей редакции:

"6.1.5.2. Полупроводниковые лазеры, такие, как: 8541401100;
  а) отдельные с единичной поперечной модой полупроводниковые лазеры, имеющие все следующие характеристики: 9013200000";
  1) длину волны менее 950 нм или более 2000 нм; и  
  2) среднюю или выходную мощность в непрерывном режиме более 100 мВт;  
  б) отдельные с многократно поперечной модой полупроводниковые лазеры, имеющие все следующие характеристики:  
  1) длину волны менее 950 нм или более 2000 нм; и  
  2) среднюю или выходную мощность в непрерывном режиме более 10 Вт;  
  в) отдельные решетки отдельных полупроводниковых лазеров, имеющие любую из следующих характеристик:  
  1) длину волны менее 950 нм и среднюю или выходную мощность в непрерывном режиме более 60 Вт; или  
  2) длину волны, равную или превышающую 2000 нм, и среднюю или выходную мощность в непрерывном режиме более 10 Вт  
  Техническое примечание.  
  Полупроводниковые лазеры обычно называются лазерными диодами Примечания:  
  1. Пункт 6.1.5.2 включает полупроводниковые лазеры, имеющие оптические выходные соединители (например, волоконно-оптические гибкие проводники)  
  2. Статус контроля полупроводниковых лазеров, специально предназначенных для другого оборудования, определяется статусом контроля другого оборудования;  

пункт 6.3.2.2 изложить в следующей редакции:

"6.3.2.2. Монокристаллы (включая эпитаксиальные пластины) любого из следующего: 3818009000;
8107900000";
  а) цинкового теллурида кадмия с содержанием цинка менее 6 % по молярным долям;  
  б) теллурида кадмия (CdTe) любого уровня чистоты; или  
  в) ртутного теллурида кадмия (HgCdTe) любого уровня чистоты  
  Техническое примечание.  
  Молярная доля определяется отношением молей ZnTe к сумме молей CdTe и ZnTe, присутствующих в кристалле  

в пункте 7.1.1:

слово "Акселерометры" заменить словами "Линейные акселерометры";

дополнить пункт особым примечанием следующего содержания:

"Особое примечание.

Для угловых или вращающихся акселерометров см. пункт 7.1.2";

в пункте 7.1.2:

слово "Гироскопы" заменить словами "Гироскопы и угловые или вращающиеся акселерометры";

из пункта 2 технических примечаний к пункту 7.2.1 слова "Особое примечание." исключить;

пункт 9.5.3.4 изложить в следующей редакции:

"9.5.3.4. Технологии, требуемые для разработки или производства вертолетных систем передачи мощности, или завала конуса лопастей вертолета, или системы передачи мощности поворотного крыла летательного аппарата";

пункты 9.5.3.4.1 и 9.5.3.4.2 исключить;

пункт 9.5.3.5.1 считать пунктом 9.5.3.5;

пункты 9.5.3.5.2-9.5.3.5.2.3 считать соответственно пунктами 9.5.3.6-9.5.3.6.3;

пункт 9.5.3.5.3 считать пунктом 9.5.3.7.

2. В разделе 2:

подпункт "а" пункта 2.2.1.2 изложить в следующей редакции:

"а) имеющие все следующие характеристики:

1) точность позиционирования со всей доступной компенсацией, равную или меньшую (лучшую) 3,6 мкм, в соответствии с международным стандартом ИСО 230/2 (1997) или его национальным эквивалентом вдоль любой линейной оси; и

2) три линейные оси плюс одну ось вращения, которые могут быть одновременно скоординированы для контурного управления;";

в пункте 4.1.3.2 цифры "6500" заменить цифрами "75000".

3. В разделах 1 и 2:

пункт 1.3.7.3 изложить в следующей редакции:

"1.3.7.3. Композиционные материалы типа керамика - керамика со стеклянной или оксидной матрицей, укрепленные волокнами, имеющие все следующие характеристики: 2849;
285000;
8803909900;
930690";
  а) изготовленные из любых нижеследующих материалов:  
  1) Si-N;  
  2) Si-C;  
  3) Si-Al-0-N; или  
  4) Si-0-N; и  
  б) имеющие удельную прочность на растяжение, превышающую 12,7 х (10 в ст.3) м;  

из пункта 9.2.1 слова "или проведения измерений параметров" исключить.

4. В пункте 4.1.3.2 раздела 3 цифры "10000" заменить цифрами "150000".

5. Пункт 1 раздела 2 "Общее примечание по программному обеспечению" примечаний к Списку дополнить особым примечанием следующего содержания:

"Особое примечание.

По пункту 1 общего примечания по программному обеспечению не освобождается от контроля программное обеспечение по части 2 Категории 5.".

6. В разделе 3 "Определение терминов, используемых в Списке" примечаний к Списку:

после определения термина "Отклонение углового положения" включить следующий термин и его определение:

"Относительная ширина полосы частот - мгновенная ширина полосы частот, деленная на среднюю частоту несущей, выраженная в процентах (Категория 3).";

после определения термина "Разрешение" включить следующий термин, его определение и особое примечание к нему:

"Распределяемые Международным союзом электросвязи - распределение частотных диапазонов в соответствии с Радиоуставом Международного союза электросвязи (издание 1998 года) для первичных, разрешенных и вторичных служб (Категории 3, 5).

Особое примечание.

Дополнительное и альтернативное распределение не включается.".